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常用直讀光譜檢測(cè)儀分析譜線的選擇要求？
發(fā)布時(shí)間：2020-06-16 09:38:12 點(diǎn)擊：6864
我們?nèi)粘Ｓ玫闹弊x光譜檢測(cè)儀器，是需要選擇分析曲線的，但這個(gè)線并不是隨便選擇的，它必須符合以下要求：
1.直讀元譜分析時(shí)，一般都采用內(nèi)標(biāo)法。因內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行分析時(shí)常采用多條分析線和一條內(nèi)標(biāo)線組成，常用試料中的基體元素為內(nèi)標(biāo)元素。組成的線對(duì)要求均稱，就是當(dāng)激發(fā)光源有波動(dòng)時(shí)，兩條線對(duì)的譜線強(qiáng)度雖有變化，但強(qiáng)度比或相對(duì)強(qiáng)度能保持不變。
如R表示強(qiáng)度比即R=I1/I0
I1為分析線的強(qiáng)度，I0為內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度，表明I1和10同時(shí)變，而R則不受影響。R與含量C之間有線性關(guān)系。
在光電直讀光譜分析時(shí)，有很多分析通道，要安裝許多內(nèi)標(biāo)通道有困難，因此采用一個(gè)內(nèi)標(biāo)線。但有人認(rèn)為再要提高光電光諸分析的準(zhǔn)確度還得采用不同的內(nèi)標(biāo)線，這還有待于光電轉(zhuǎn)換元件的小型化來(lái)解訣。
光電法時(shí)，有時(shí)還用內(nèi)標(biāo)線來(lái)控制曝光量，稱為自動(dòng)曝光，也就是樣品在曝光時(shí)，分析線和內(nèi)標(biāo)分別向各自積分電容充電，當(dāng)內(nèi)標(biāo)線的積分電容器充電達(dá)到某一預(yù)定的電壓時(shí)，自動(dòng)截止曝光。此時(shí)分析線的積分電器充電達(dá)到的電壓即代表分析線的強(qiáng)度I，并且亦即代表分析線的強(qiáng)度比R（因?yàn)镽=I1/I0，而此時(shí)I0保持常數(shù)）這個(gè)強(qiáng)度I或強(qiáng)度比R就由測(cè)光讀數(shù)所表示。
現(xiàn)在一般采用計(jì)時(shí)曝光法較為普遍。
2.分析線和內(nèi)標(biāo)線之間要求均稱性。也就是要求它們的電離電位及激發(fā)電位都很接近為最好。
3.分析線、內(nèi)標(biāo)線的強(qiáng)度（數(shù)字電壓值，計(jì)數(shù)值）的零值含量，宜在分析含量范圍的中間。
4.選擇分析線時(shí)，要有足夠的濃度靈敏度，也就是說(shuō)，當(dāng)試料中濃度稍有一點(diǎn)微小改變，譜線強(qiáng)度也有明顯的表示出來(lái)。同時(shí)要求分析線的含量范圍要大，有利于分析工作。
5.選擇分析線時(shí)，要注意其他元素的干擾，要盡量不受其他元素的重疊干擾。
