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X熒光光譜分析儀操作誤差源
發(fā)布時間：2023-05-05 09:34:44 點擊：4671
X熒光光譜分析儀作為分析領(lǐng)域重要的檢測手段，在操作過程中，或許會有一定的誤差產(chǎn)生，這會影響到我們的檢測準(zhǔn)確性。
在X熒光光譜儀分析制樣過程中，粉磨時未設(shè)定好粉磨時間和壓力，達(dá)不到要求的粉磨粒度或相應(yīng)的料度分布。實驗表明當(dāng)粉磨時間短于試驗設(shè)定時間，測定結(jié)果就會產(chǎn)生波動。同時，粉磨時未按規(guī)定加適量助磨劑或所加助磨劑中含有所要分析的元素，都會給測定結(jié)果帶來較大影響。磨頭和磨盤里留有前期樣品或被其它物質(zhì)污染，結(jié)果也會產(chǎn)生誤差。
X熒光光譜儀分析制樣過程中壓片時，未設(shè)定好時間和壓力，壓力效果不好或壓片時樣品布入不均勻而產(chǎn)生了樣品的堆積分布不均，或壓片板（壓片頭）不潔凈（或上面粘有前期樣品）等，都會影響分析結(jié)果。
當(dāng)樣品制好后，制樣未保護(hù)好，制樣裝入試樣盒的位置不當(dāng)，結(jié)果給分析帶來誤差。制樣未保護(hù)好有兩層含義：
①未保護(hù)好制樣光潔度。如用手指摸分析面、或用手指甲劃、用口吹、用濕毛巾擦分析面等；
②制樣在空氣中放置太久，使分析面與空氣中物質(zhì)發(fā)生了物理化學(xué)變化。制樣裝盒位置不當(dāng)，把測樣片裝倒了或測樣片表面與試樣盒表面成一傾斜角等，都會影響到射線管與分析面的距離，從而產(chǎn)生誤差。
在X熒光光譜儀分析中，由于分析面上的樣品灰未除掉，時間長了會影響到儀器真空度；或由于操作者粗心，分析程序選錯，如測生料時用上測熟料的分析曲線或用了測石灰石的曲線，顯然結(jié)果不正確。
所以，在使用操作X熒光光譜分析儀中，需要注意到以上的問題，保證其檢測的準(zhǔn)確性。上一篇：直讀光譜分析儀的準(zhǔn)確性影響 下一篇：為什么要用直讀光譜儀來檢測合金中的元素
